SN74BCT8244ADWR

IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
SN74BCT8244ADWR P1
SN74BCT8244ADWR P1
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Texas Instruments ~ SN74BCT8244ADWR

Numéro d'article
SN74BCT8244ADWR
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
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Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74BCT8244ADWR
État de la pièce Discontinued at Digi-Key
Type de logique Scan Test Device with Buffers
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package de périphérique fournisseur 24-SOIC

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