SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
SN74LVTH182512DGGR P1
SN74LVTH182512DGGR P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ SN74LVTH182512DGGR

номер части
SN74LVTH182512DGGR
производитель
Texas Instruments
Описание
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
- SN74LVTH182512DGGR PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части SN74LVTH182512DGGR
Статус детали Active
Тип логики ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Напряжение питания 2.7 V ~ 3.6 V
Количество бит 18
Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Пакет устройств поставщика 64-TSSOP

сопутствующие товары

Все продукты