SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
SN74LVTH182512DGGR P1
SN74LVTH182512DGGR P1
Bilder dienen nur als Referenz.
Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74LVTH182512DGGR

Artikelnummer
SN74LVTH182512DGGR
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
- SN74LVTH182512DGGR PDF online browsing
Familie
Logik - Speziallogik
  • Auf Lager $ Anzahl Stk
  • Referenzpreis : submit a request

Senden Sie eine Angebotsanfrage für größere Mengen als angezeigt.

Produktparameter

Alle Produkte

Artikelnummer SN74LVTH182512DGGR
Teilstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7 V ~ 3.6 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Lieferantengerätepaket 64-TSSOP

Verwandte Produkte

Alle Produkte