SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
SN74LVTH182512DGGR P1
SN74LVTH182512DGGR P1
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Texas Instruments ~ SN74LVTH182512DGGR

Numéro d'article
SN74LVTH182512DGGR
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
- SN74LVTH182512DGGR PDF online browsing
Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74LVTH182512DGGR
État de la pièce Active
Type de logique ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Tension d'alimentation 2.7 V ~ 3.6 V
Nombre de bits 18
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Package de périphérique fournisseur 64-TSSOP

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