SN74LVTH182512DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
SN74LVTH182512DGGR P1
SN74LVTH182512DGGR P1
Resimler sadece referans amaçlıdır.
Ürün detayları için Ürün Teknik Özellikleri bölümüne bakınız.

Texas Instruments ~ SN74LVTH182512DGGR

Parça numarası
SN74LVTH182512DGGR
Üretici firma
Texas Instruments
Açıklama
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu
Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
Veri Sayfası
- SN74LVTH182512DGGR PDF online browsing
Aile
Mantık - Özel Mantık
  • Stokta $ Adet Adet
  • Referans fiyatı : submit a request

Görüntülenenlerden daha büyük miktarlarda Teklif İsteği gönderin.

Ürün parametresi

Tüm ürünler

Parça numarası SN74LVTH182512DGGR
Parça Durumu Active
Mantık Tipi ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Besleme gerilimi 2.7 V ~ 3.6 V
Bit Sayısı 18
Çalışma sıcaklığı -40°C ~ 85°C
Montaj tipi Surface Mount
Paket / Durum 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Tedarikçi Aygıt Paketi 64-TSSOP

ilgili ürünler

Tüm ürünler