SN74BCT8373ADWR

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
SN74BCT8373ADWR P1
SN74BCT8373ADWR P1
Resimler sadece referans amaçlıdır.
Ürün detayları için Ürün Teknik Özellikleri bölümüne bakınız.

Texas Instruments ~ SN74BCT8373ADWR

Parça numarası
SN74BCT8373ADWR
Üretici firma
Texas Instruments
Açıklama
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu
Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
Veri Sayfası
- SN74BCT8373ADWR PDF online browsing
Aile
Mantık - Özel Mantık
  • Stokta $ Adet Adet
  • Referans fiyatı : submit a request

Görüntülenenlerden daha büyük miktarlarda Teklif İsteği gönderin.

Ürün parametresi

Tüm ürünler

Parça numarası SN74BCT8373ADWR
Parça Durumu Obsolete
Mantık Tipi Scan Test Device with D-Type Latches
Besleme gerilimi 4.5 V ~ 5.5 V
Bit Sayısı 8
Çalışma sıcaklığı 0°C ~ 70°C
Montaj tipi Surface Mount
Paket / Durum 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Tedarikçi Aygıt Paketi 24-SOIC

ilgili ürünler

Tüm ürünler