SN74ABTH182652APM

IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
SN74ABTH182652APM P1
SN74ABTH182652APM P1
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Texas Instruments ~ SN74ABTH182652APM

Artikelnummer
SN74ABTH182652APM
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
- SN74ABTH182652APM PDF online browsing
Familie
Logik - Speziallogik
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Produktparameter

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Artikelnummer SN74ABTH182652APM
Teilstatus Active
Logiktyp Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)

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