SN74ABT8245DWR

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
SN74ABT8245DWR P1
SN74ABT8245DWR P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ SN74ABT8245DWR

номер части
SN74ABT8245DWR
производитель
Texas Instruments
Описание
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
- SN74ABT8245DWR PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части SN74ABT8245DWR
Статус детали Active
Тип логики Scan Test Device with Bus Transceivers
Напряжение питания 4.5 V ~ 5.5 V
Количество бит 8
Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Пакет устройств поставщика 24-SOIC

сопутствующие товары

Все продукты