8V182512IDGGREP

IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
8V182512IDGGREP P1
8V182512IDGGREP P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ 8V182512IDGGREP

номер части
8V182512IDGGREP
производитель
Texas Instruments
Описание
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
- 8V182512IDGGREP PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части 8V182512IDGGREP
Статус детали Active
Тип логики ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Напряжение питания 2.7 V ~ 3.6 V
Количество бит 18
Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Пакет устройств поставщика 64-TSSOP

сопутствующие товары

Все продукты