SN74BCT8374ADWR

IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
SN74BCT8374ADWR P1
SN74BCT8374ADWR P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ SN74BCT8374ADWR

номер части
SN74BCT8374ADWR
производитель
Texas Instruments
Описание
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
- SN74BCT8374ADWR PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части SN74BCT8374ADWR
Статус детали Obsolete
Тип логики Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Напряжение питания 4.5 V ~ 5.5 V
Количество бит 8
Рабочая Температура 0°C ~ 70°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Пакет устройств поставщика 24-SOIC

сопутствующие товары

Все продукты