SN74ABT8952DW

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
SN74ABT8952DW P1
SN74ABT8952DW P1
Изображения служат только для ознакомления. Подробную информацию см. В технических характеристиках продукта.

Texas Instruments ~ SN74ABT8952DW

номер части
SN74ABT8952DW
производитель
Texas Instruments
Описание
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
Бессвинцовый статус / RoHS Статус
Бессвинцовый / Соответствует RoHS
Техническая спецификация
SN74ABT8952DW.pdf SN74ABT8952DW PDF online browsing
семья
Логика - специальная логика
  • На складе $ Количество шт
  • Справочная цена : submit a request

Подать запрос цен на количество, превышающее отображаемое.

Параметр продукта

Все продукты

номер части SN74ABT8952DW
Статус детали Obsolete
Тип логики Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Напряжение питания 4.5 V ~ 5.5 V
Количество бит 8
Рабочая Температура -40°C ~ 85°C
Тип монтажа Surface Mount
Упаковка / чехол 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Пакет устройств поставщика 28-SOIC

сопутствующие товары

Все продукты