SN74BCT8245ANTG4

IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
SN74BCT8245ANTG4 P1
SN74BCT8245ANTG4 P1
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Texas Instruments ~ SN74BCT8245ANTG4

Numéro d'article
SN74BCT8245ANTG4
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
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Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74BCT8245ANTG4
État de la pièce Obsolete
Type de logique Scan Test Device with Bus Transceivers
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement 0°C ~ 70°C
Type de montage Through Hole
Paquet / cas 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Package de périphérique fournisseur 24-PDIP

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