SN74ABTH182652APM

IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
SN74ABTH182652APM P1
SN74ABTH182652APM P1
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Texas Instruments ~ SN74ABTH182652APM

Numéro d'article
SN74ABTH182652APM
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
- SN74ABTH182652APM PDF online browsing
Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74ABTH182652APM
État de la pièce Active
Type de logique Scan Test Device With Transceivers And Registers
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 18
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 64-LQFP
Package de périphérique fournisseur 64-LQFP (10x10)

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