SN74LVTH182502APM

IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
SN74LVTH182502APM P1
SN74LVTH182502APM P1
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Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74LVTH182502APM

Artikelnummer
SN74LVTH182502APM
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
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Familie
Logik - Speziallogik
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Produktparameter

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Artikelnummer SN74LVTH182502APM
Teilstatus Active
Logiktyp ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Versorgungsspannung 2.7 V ~ 3.6 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 64-LQFP
Lieferantengerätepaket 64-LQFP (10x10)

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