SN74BCT8373ANT

IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
SN74BCT8373ANT P1
SN74BCT8373ANT P1
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Texas Instruments ~ SN74BCT8373ANT

Artikelnummer
SN74BCT8373ANT
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
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Familie
Logik - Speziallogik
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Produktparameter

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Artikelnummer SN74BCT8373ANT
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with D-Type Latches
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur 0°C ~ 70°C
Befestigungsart Through Hole
Paket / Fall 24-DIP (0.300", 7.62mm)
Lieferantengerätepaket 24-PDIP

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