SN74ABT8652DWRE4

IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
SN74ABT8652DWRE4 P1
SN74ABT8652DWRE4 P1
Bilder dienen nur als Referenz.
Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74ABT8652DWRE4

Artikelnummer
SN74ABT8652DWRE4
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
- SN74ABT8652DWRE4 PDF online browsing
Familie
Logik - Speziallogik
  • Auf Lager $ Anzahl Stk
  • Referenzpreis : submit a request

Senden Sie eine Angebotsanfrage für größere Mengen als angezeigt.

Produktparameter

Alle Produkte

Artikelnummer SN74ABT8652DWRE4
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SOIC

Verwandte Produkte

Alle Produkte